Skriv ut

Årets upplaga av tvådagarskonferensen Testforum, för alla som sysslar med produktionstest, går av stapeln den 29 och 30 november i Vantaa strax utanför Helsingfors.

Teststrategier, testautomation, robotisering, funktionstest, Jtag och testkvalitet är några av de ämnen som tas upp på årets upplaga av Test Forum. Konferensen brukar samlar runt 70 deltagare från Norden och Baltikum.

Inledningstalare är Jaakko Ala-Paavola, teknikchef på konsultbolaget Etteplan. Anförandet har titeln ”20 Billion Connected Devices, How to Test Them All – or Not to Test at All?”.

Mer information och anmälan finns här: (länk)